Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, substrate Ni-W, films epitaxial, microstructure, fabrication, slot-die technique
Ключевые слова: HTS, YBCO, fabrication, MOD process, fluorine-free process, melting, substrate LaAlO3, thin films, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, polymer
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate LaAlO3, MOD process, doping effect, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, buffer layers, coatings, chemical solution deposition, MOD process, fluorine-free process, fabrication, microstructure
Ключевые слова: HTS, YBCO, films epitaxial, substrate LaAlO3, MOD process, fluorine-free process, fabrication, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves
Yang Y., Zhang Y., Li G., Cheng C.H., Zhao Y., Zhang X., Pu M.H., Sun R.P., Zhang H., Zhang H., Wang W.T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors multifilamentary, buffer layers, films epitaxial, chemical solution deposition, fabrication, new
Ключевые слова: HTS, films, doping effect, chemical solution deposition, substrate LaAlO3, MOD process, fluorine-free process, fabrication, microstructure, polymer
Ключевые слова: MgB2, bulk, fabrication, milling process, microstructure, Jc/B curves, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, buffer layers, chemical solution deposition, substrate SrTiO3, substrate LaAlO3, texture, coated conductors, new
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, substrate LaAlO3, chemical solution deposition, MOD process, microstructure, fabrication
Li C.S., Yan G., Feng Y., Xu Z., Zhao Y., Xu H.L.(xhlxhl@zzu.edu.cn), Xu Y.D., Wu X.J., Pu M.H., Lu Y.F., Ji P., Shen Z.H.
Ключевые слова: MgB2, doping effect, defects, Jc/B curves, microstructure, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, tapes, flux creep, irreversibility fields, pinning potential, experimental results, critical caracteristics, magnetic properties
Ключевые слова: MgB2, nanodoping, Jc/B curves, experimental results, bulk, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.